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Product Category電鏡制樣設(shè)備
實驗室耗材
光學電子顯微鏡
實驗室常用設(shè)備
Leica EM TXP徠卡精研一體機 是一款可對目標區(qū)域進行精.確定位的表面處理工具，特別適合于SEM, TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標...
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徠卡三離子束切割儀： Leica EM TIC 3X 是一款*的三離子束切割儀，可對軟硬復合型或應(yīng)力敏感型材料樣品進行離子束轟擊，獲得樣品截面，便于SEM觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息及分析。
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徠卡超薄切片機 徠卡顯微系統(tǒng)為用戶帶來全新的樣品制備技術(shù):Leica EM UC Enuity 新一代超薄切片機，這款超薄切片機可以進行半薄和超薄切片，為光學顯微鏡，透射電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡和原...
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徠卡高真空鍍膜儀是一款多功能型高 真空鍍膜系統(tǒng)，用于制備超薄，細顆粒的導電金屬膜和碳膜，以適用于FE-SEM和TEM超高分辨率分析所需的鍍膜要求。這一款全自動臺式鍍膜儀，包含內(nèi)置式無油真空系統(tǒng)石英膜厚...
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TedPella 夾鋁層雙面碳導電膠帶5mm/8mm為夾鋁層雙面碳導電膠帶，兩碳層中間有一層約30um厚度的鋁箔導電層，增加導電性，同時可消除SEM成像中的背底噪音。
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TedPella FIB載網(wǎng)Omniprobe 三齒鉬網(wǎng)，載網(wǎng)上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品
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Omniprobe FIB全鎢取樣針：FIB專用探針，此為全鎢探針，針柄和針尖都為鎢，針尖最大使用壽命內(nèi)規(guī)格為＜0.5um，10-13°錐角，針柄直徑為0.508mm，針柄長度為34.036...
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FIB載網(wǎng)Omniprobe 四齒鉬網(wǎng)：Omniprobe 載網(wǎng)專用于FIB，載網(wǎng)上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品。此載網(wǎng)材質(zhì)為鉬，含有4個齒針兩個V型和兩個直線型，...
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FIB載網(wǎng)Omniprobe 四齒銅網(wǎng)：Omniprobe 載網(wǎng)專用于FIB，載網(wǎng)上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品。此載網(wǎng)材質(zhì)為銅，含有4個齒針兩個V型和兩個直線型，...
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FIB載網(wǎng)Omniprobe 三齒銅網(wǎng)：Omniprobe 載網(wǎng)專用于FIB，載網(wǎng)上的齒針可為樣品提供良好的支撐，下面的編號在TEM中可準確定位樣品。此載網(wǎng)材質(zhì)為銅，含有3個齒針兩個V型和一個直線型，...
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Zeiss蔡司SEM掃描電鏡鎢燈絲 10個/盒，有以下兩種規(guī)格：貨號【AGA054】：燈絲直徑 0.12mm，10個/盒；貨號【AGA054L】：燈絲直徑 0.15mm，10個/盒。
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Leica EM KMR3 為電鏡和光鏡切片提供優(yōu)質(zhì)的玻璃刀 ，采用平衡斷裂法，確保制備出優(yōu)質(zhì)的玻璃刀，有三種規(guī)格玻璃條可供選擇：6.4mm，8mm，10mm。
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Leica EM TXPLeica 精研一體機
Leica EM TIC 3XLeica 三離子束切割儀
Leica EM EnuityLeica 超薄切片機
Leica EM ACE600Leica 高真空鍍膜儀
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十多年行業(yè)經(jīng)驗技術(shù)文章
2025-09-11
LEICA三離子束切割儀靠三束氬離子同時轟擊樣品，把表面原子打掉，得到無劃痕、無形變的拋光面。離子束控制得好不好，直接決定平面質(zhì)量、加工速度和實驗重復性。下面把“離子束控制”拆開講，看完就明白關(guān)鍵在哪。一、離子束怎么來儀器頂部有三支離子槍，...2025-08-13
離子濺射儀靠高能離子轟擊靶材，把靶材原子“打”出來，在基片上形成薄膜。靶材必須牢固地貼在背板上，否則濺射時溫度升高會脫開。焊得好不好，直接決定設(shè)備能不能連續(xù)工作。下面用為大家介紹其常用焊接工藝：一、靶材與背板材料靶材多為純金屬或陶瓷，如銅、...2025-07-11
徠卡超薄切片機作為材料科學、生物醫(yī)學等領(lǐng)域的關(guān)鍵設(shè)備，其適配性直接影響樣本制備質(zhì)量與實驗效率。本文從樣本類型、刀具系統(tǒng)、環(huán)境條件及功能擴展四個方面，解析該設(shè)備的多維適配特性。一、樣本適配性硬質(zhì)材料：配合鉆石刀可切削骨骼、牙齒等礦化組織。軟質(zhì)...2025-06-12
在材料科學、電子器件分析和生物醫(yī)學研究中，獲取樣品的高質(zhì)量橫截面是進行微觀結(jié)構(gòu)分析和性能評估的前提。LEICA三離子束切割儀作為結(jié)合聚焦離子束（FIB）與掃描電子顯微鏡（SEM）的高級設(shè)備，已經(jīng)成為實現(xiàn)精準、無損切割的重要工具。然而，如何利...
2023-08-08
隨著科技的不斷進步，納米加工和表面改性在許多領(lǐng)域都變得越來越重要。在這些應(yīng)用中，LEICA三離子束切割儀因其高...服務(wù)流程
根據(jù)對應(yīng)行業(yè)，提供不同技術(shù)方案
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